0

Applied RHEED

Reflection High-Energy Electron Diffraction During Crystal Growth, Springer Trac

Erscheinungsjahr: 2013
CHF 66,90
(inkl. MwSt.)

In der Regel lieferbar innerhalb 1-3 Tagen

In den Warenkorb
Bibliografische Daten
ISBN/EAN: 9783662156148
Sprache: Englisch
Auflage: 1. Auflage

Autorenportrait

InhaltsangabeMBE-grown semiconductor interfaces.- Reflection high-energy electron diffraction (RHEED).- RHEED oscillations.- Semikinematical simulations of RHEED patterns.- Kikuchi lines.- RHEED with rotating substrates.- Reconstruction-induced phase shifts of RHEED oscillations.- Energy loss spectroscopy during growth.- Phase shifts: Models.- Applications of reconstruction-induced phase shifts.- Closing remarks.

Weitere Artikel vom Autor "Braun, Wolfgang"

Alle Artikel anzeigen

Weitere Artikel aus der Kategorie "Physik & Astronomie"

In der Regel lieferbar innerhalb 1-3 Tagen

CHF 65,00
inkl. MwSt.

In der Regel lieferbar innerhalb 1-3 Tagen

CHF 41,90
inkl. MwSt.

In der Regel lieferbar innerhalb 1-3 Tagen

CHF 26,90
inkl. MwSt.

Nicht lieferbar

CHF 37,50
inkl. MwSt.

In der Regel lieferbar innerhalb 1-3 Tagen

CHF 35,60
inkl. MwSt.

In der Regel lieferbar innerhalb 1-3 Tagen

CHF 68,00
inkl. MwSt.
Alle Artikel anzeigen