Inhaltsangabe1. Einleitung.- 1.1. Allgemeine Aufgaben der Testvorbereitung.- 1.2. Fehlermodelle.- 1.3. Spezielle Aufgabenstellungen der Testvorbereitung.- 1.3.1. Automatische Testmustergenerierung.- 1.3.2. Fehlersimulation und Testsatzbewertung.- 1.3.3. Testbarkeitsanalyse.- 1.4. Testfreundliche Entwurfsmethoden.- 1.5. Stand der Technik.- 1.6. Ziele der Arbeit.- 2. Struktur kombinatorischer Schaltungen.- 2.1. Schaltung und Strukturgraph.- 2.2. Zerlegung in fanoutfreie Zonen.- 2.3. Spezielle Strukturmerkmale kombinatorischer Schaltungen.- 2.3.1. Unabhängige Fanout-Zweige.- 2.3.2. Flußdominanz und Dominanzbeziehungen.- 2.3.3. Free Lines, Bound Lines und Head Lines.- 3. Schnelle Fehlersimulation in kombinatorischen Schaltungen.- 3.1. Grundlagen der Fehlersimulation.- 3.2. Methoden zur Beschleunigung der Fehlersimulation.- 3.2.1. Gutsimulation mittels paralleler Signalauswertung.- 3.2.2. Einfachpfadsensibilisierung mittels paralleler Signalauswertung.- 3.2.3. Beschleunigtes Fast Fault Grading.- 3.2.4. Überprüfungskriterium für fanoutfreie Zonen.- 3.2.5. Ausnutzung struktureller Schaltungsmerkmale.- 3.2.6. Fehlersimulation der Fanout-Stämme.- 3.3. Mittlerer Rechenzeitaufwand.- 3.4. Experimentelle Ergebnisse und vergleichende Untersuchungen.- 4. Automatische Testmustergenerierung in kombinatorischen Schaltungen.- 4.1. Deterministische Testmustergenerierung als Suchproblem mit finitem Suchraum.- 4.1.1. Problemformulierung.- 4.1.2. Entscheidungsbaum und Backtracking.- 4.1.3. Globale Ziele und Strategien.- 4.2. Grundlagen und Definitionen.- 4.2.1. Wertebereich.- 4.2.2. Vollständigkeit.- 4.2.3. Redundant Faults und Aborted Faults.- 4.2.4. Inkonsistente Wertzuweisung und widersprüchliche Wertzuweisung.- 4.2.5. D-Front und potentieller Fehlereffekt- ausbreitungspfad.- 4.2.6. Dominante und nichtdominante logische Werte.- 4.3. Der deterministische Testmustergenerierungsalgorithmus.- 4.3.1. Grundsätzliche Vorgehensweise.- 4.3.2. Die Implikationsprozedur.- 4.3.2.1. Lokale Implikationen.- 4.3.2.2. Globale Implikationen.- 4.3.2.3. Lernen globaler Implikationen.- 4.3.3. Die Prozedur zur Durchführung der zwingend notwendigen Sensibilisierungsmaßnahmen.- 4.3.3.1. Strukturbezogene Sensibilisierungsmaßnahmen.- 4.3.3.2. Dynamische Berücksichtigung der Belegungssituation.- 4.3.4. Die Multiple Backtrace Prozedur.- 4.3.4.1. Testbarkeitsmaße.- 4.3.4.2. Objectives.- 4.3.4.3. Die Menge der initialen Objectives.- 4.3.4.4. Rückwärtsfortpflanzung der Objectives.- 4.3.4.5. Bestimmung eines Signals zur Durchführung einer optionalen Wertzuweisung.- 4.3.4.6. Aufbau des Entscheidungsbaums.- 4.3.4.6.1. Durchführung der optionalen Wertzuweisungen.- 4.3.4.6.2. Steuermechanismen und Heuristika.- 4.3.4.7. Wiederaufruf der Multiple Backtrace Prozedur.- 4.4. Das automatische Testmustergenerierungssystem SOCRATES.- 4.4.1. Erstellen der Zielfehlerliste.- 4.4.2. Preprocessing Phase.- 4.4.3. Testbarkeitsabschätzung.- 4.4.4. Zweiphasige Testmustergenerierung.- 4.4.5. Maximalzahl erlaubter Backtrackings und Testbarkeitsmaße.- 4.4.6. Kompaktierung des generierten Testsatzes.- 4.4.7. Restart-Modus.- 4.5. Experimentelle Ergebnisse und vergleichende Untersuchungen.- 5. Zusammenfassung und Ausblick.- Vereinbarungen, Formelzeichen und Stichworte.- Anhang: Gharakteristika der Benchmark-Schaltungen.